測(cè)量一顆晶振的好壞,簡(jiǎn)單易做的方法就是直接用萬用表測(cè)量晶振電阻和電壓,根據(jù)測(cè)量數(shù)值能快速有效的判斷晶振質(zhì)量情況。有時(shí)候想要對(duì)晶振更全面分析測(cè)試,設(shè)備和流程需要怎么做?
測(cè)試工具清單
石英晶振測(cè)試需準(zhǔn)備的材料、零部件
1.細(xì)紗手套
2.待測(cè)石英晶體元件
設(shè)備及工裝
1.頻率計(jì)(1×10-7)
2.阻抗計(jì)(f:±5×10-6,R1:±10%)
3.絕緣電阻測(cè)試儀(±20%)
4.精密電容測(cè)試儀(±0.1%±0.003PF)
5.恒溫箱(±0.1℃)
6.溫度計(jì)(-50-+50℃,0-100℃)
7.鑷子(中號(hào))
8.各種電容夾具
9.晶體插板
10.器件測(cè)試回流焊(M6/M7/M8)
測(cè)試前準(zhǔn)備工作
1.將所需電子儀器接通電源,預(yù)熱30分鐘以上。
2.查看技術(shù)條件,了解測(cè)試內(nèi)容。
操作過程
絕緣電阻測(cè)試
1.調(diào)整好絕緣電阻測(cè)試儀(電壓100V±15V)。
2.用儀器表筆碰被測(cè)石英晶體元件的外殼與引線間(晶片電極引線),測(cè)量其之間的絕緣電阻。
3.測(cè)得的絕緣電阻應(yīng)符合產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn),否則判為不合格。
并電容測(cè)試
1.調(diào)整好精密電容測(cè)試儀。
2.用儀表筆測(cè)量被測(cè)石英晶振元件的并電容,測(cè)得的電容值應(yīng)符合產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn),否則判為不合格。
諧振頻率及諧振電阻的測(cè)試
基準(zhǔn)溫度條件下,石英晶體元件的諧振頻率及諧振電阻的測(cè)試。
1.將被測(cè)石英晶體諧振器放在基準(zhǔn)溫度(該產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)所規(guī)定的溫度)下至少放置1小時(shí)。
2.調(diào)整好頻率計(jì)阻抗計(jì)。
3.在阻抗計(jì)上測(cè)試被測(cè)石英晶體元件的諧振頻率,其值與標(biāo)稱頻率之差應(yīng)符合產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn),否則為不合格。
4.測(cè)石英晶體元件的諧振電阻,則在阻抗計(jì)上將石英晶體元件的諧振電阻與標(biāo)準(zhǔn)電阻相比較。
比較方法
A高頻石英晶體元件
首先將與產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)相符合的標(biāo)準(zhǔn)電阻插在阻抗計(jì)上,看其柵流幅度。再將石英晶體元件插在阻抗計(jì)上看其柵流幅度(當(dāng)石英晶體元件要求諧振電阻時(shí)石英晶體元件直接插在阻抗計(jì)上,當(dāng)石英晶體元件要求是負(fù)載諧振電阻時(shí),則石英晶體元件插在電容夾具上,然后插在阻抗計(jì)上。)
如插石英晶體元件的阻抗計(jì)柵流大于插標(biāo)準(zhǔn)電阻時(shí)的阻抗計(jì)柵流,則判為合格,否則判為不合格。
B低、中頻石英晶體元件
在阻抗計(jì)上用電位器測(cè)出負(fù)載諧振電阻(諧振電阻)值,然后插入晶體插孔,記下此時(shí)電壓表指針位置。
實(shí)測(cè)石英晶體元件,若諧振時(shí)電壓表指針位置超過4中位置時(shí),則此晶體元件的阻值為合格,否則為不合格。
低溫條件下石英晶體元件的諧振頻率及諧振電阻的測(cè)試。
1.將石英晶體元件放在低溫恒溫箱內(nèi)按產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)工作溫度的下限恒溫半小時(shí)以上。
2.重復(fù)上述相同工步。
3.注:要求總頻差時(shí),用低溫時(shí)實(shí)測(cè)頻率與標(biāo)準(zhǔn)頻率相減,要求溫度頻差時(shí),用低溫時(shí)實(shí)測(cè)頻率與基準(zhǔn)溫度時(shí)實(shí)測(cè)頻率相減,以下高溫測(cè)試也如此。
4.將被測(cè)石英晶體元件放在高溫恒溫箱內(nèi)按產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)工作溫度的上限恒溫半小時(shí)以上。
5.重復(fù)上述相同工步。
串并間隔的測(cè)試(在常溫條件下測(cè)試)
1.調(diào)整好頻率計(jì),阻抗計(jì)。
2.按產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)在阻抗上分別測(cè)出被測(cè)石英晶體元件在兩種(或多種)負(fù)載電容情況下的頻率。
3.計(jì)算出的頻率差值,其值應(yīng)符合產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn),否則判為不合格。
注意事項(xiàng)
測(cè)試時(shí)頻率計(jì)數(shù):高頻石英晶體元件以第三次顯示的數(shù)字為準(zhǔn),中、低頻石英晶體元件以第二次顯示的數(shù)字為準(zhǔn)。
為確保晶振在焊接方面不會(huì)出現(xiàn)的高溫與加熱速率影響品質(zhì),我們要求對(duì)晶振模擬焊接條件進(jìn)行,由器件測(cè)試回流焊(力鋒M系列測(cè)試回流焊)焊接高溫測(cè)試,通過對(duì)晶振進(jìn)行測(cè)試可確定出不良的晶振器件
上錫測(cè)試,通過將錫膏熔接其引腳,可抽測(cè)晶振引腳上錫是否良好。
以上是石英晶振測(cè)試的全部?jī)?nèi)容,希望對(duì)大家有所幫助。保證好的晶振品質(zhì)是揚(yáng)興的最大價(jià)值,“品質(zhì)為本,服務(wù)為根”一直是我們倡導(dǎo)的經(jīng)營(yíng)理念。如果您遇到晶振測(cè)試方面的問題,別擔(dān)心!我們有專業(yè)的技術(shù)人員免費(fèi)提供產(chǎn)品測(cè)試服務(wù)。
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